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CEM3000系列100Pa倉內(nèi)真空度掃描電鏡操作系統(tǒng)簡便，使用過程簡單快捷。具有高度的靈活性和豐富的功能，包括多種檢測器、附件，可以滿足廣泛的研究和工業(yè)需求，包括半導(dǎo)體芯片失效分析。

NS系列納米級薄膜臺階儀采用了線性可變差動電容傳感器LVDC，具備超微力調(diào)節(jié)的能力和亞埃級的分辨率，同時，其集成了超低噪聲信號采集、超精細運動控制、標(biāo)定算法等核心技術(shù)，使得儀器具備超高的測量精度和測量重復(fù)性。

傳統(tǒng)的落地式SEM掃描電鏡儀器可能需要一個專門的房間或設(shè)施，而中圖儀器國產(chǎn)掃描電鏡公司的CEM3000系列掃描電鏡的框架尺寸還有所縮小，具有更高的易用性，要堅固耐用得多。

CEM3000系列自動化顆粒度統(tǒng)計掃描電鏡具有高度的靈活性和豐富的功能，包括多種檢測器、附件，可以滿足廣泛的研究和工業(yè)需求，包括半導(dǎo)體芯片失效分析。無論樣品尺寸、重量、導(dǎo)電性如何，掃描電鏡都可以讓您輕松應(yīng)對挑戰(zhàn)，獲得出色的SEM圖像和SEM分析結(jié)果。

SuperViewW工業(yè)表面3D白光干涉檢測儀可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

傳統(tǒng)的落地式SEM掃描電鏡儀器可能需要一個專門的房間或設(shè)施，而CEM3000中圖儀器臺式電鏡掃描儀器的框架尺寸還有所縮小，具有更高的易用性，要堅固耐用得多。